电子探针显微分析仪材料学院大型仪器管理平台配有JEOL公司最新的JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪(EPMA)。该设备目前已验收,现面向校内外开放,欢迎广大师生预约使用。EPMA通过检测电子束与样品相互作用产生的二次电子或背散射电子,得到样品的二次电子形貌像或背散射形貌/成分像;同时,EPMA上配备的能谱仪和波谱仪能够对样品进行微区元素成分定性/定量点分析、元素线扫描分析和元素面分布分析。波谱仪具有高的能量分辨率(2~20 eV),可进行痕量元素的分析,探测精度为0.001%。其可测元素范围为铍(4Be)到铀(92U)。 仪器型号:JXA-iHP200F实验室地点:31-107联系电话:15222131955仪器收费:400 元/h(校内),600 元/h(校外) 主要功能:1. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量点分析2. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量线分析3. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量面分析4. 金属和非金属材料的高分辨二次电子像、背散射电子像、相分析、实时能谱分析、能谱/波谱一体化分析、有标样和无标样定量分析应用范围:分析元素范围:4Be - 92U应用领域:材料科学、微电子学、冶金学、生物化学、地球化学、矿物学、地质年代学等。技术规格:空间分辨率:好于0.1 μm;图像放大倍数:×40 ~ ×300,000;加速电压:1 ~ 30 kV(步长:0.1 kV);束流范围:10-12 ~ 3×10-6 A;束斑尺寸:≤ 20 nm(10 kV,10 nA,工作距离11 mm);分析精度:好于1% (主元素, 含量 >5%)和5%(次要元素,含量 ~1%)样品要求:1. 固体2. 导电(不导电或导电性低的样品可在31-107进行喷碳)3. 直径5 μm ~ 36 mm,高度 < 20 mm,厚度 > 5 μm4. 表面平整(块体样品建议进行表面抛光)5. 对于粉末样品,提前联系测试老师进行沟通制样 电子探针显微分析仪应用实例 (1)焊接接头析出相测定 Acta Materialia 297 (2025) 121356.(2)增材制造双相不锈钢的组织测定 Journal of Materials Processing Tech. 341 (2025) 118885.(3)ZrN微球-ZrO2复合陶瓷成分分析 Ceramics International 51 (2025) 26146-26155.