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【仪器上新】天津大学大型仪器平台电镜中心 Model 695 PIPS II精密离子减薄仪试运行通知

发布时间: 2025-03-17 16:25:52

【仪器上新】天津大学大型仪器平台电镜中心

Model 695 PIPS II 精密离子减薄仪试运行通知

 

天津大学大型仪器平台电镜中心Model 695 PIPS II 精密离子减薄仪主要用于对已加工成直径Φ3mm的薄片样品(厚度30-40μm)进行最终减薄,制备具有大面积清洁薄区的高质量透射电镜样品。目前设备已安装调试完毕,现开放试运行,欢迎预约测试!

一、仪器介绍

Model 695 PIPS II 精密离子减薄仪主要应用于半导体、金属、陶瓷、薄膜、合金等多种材料的块体透射电镜样品的制备;配备冷台系统,减少减薄过程中带来的温升效应


                                                                                            

二、基本参数

1. 离子源:氩离子;

2. 离子束能量:0.1-8.0 keV连续可调;

3. 离子束流密度峰值:可达10mA/cm2

4. 减薄角度范围:+10°到-10°,每只离子枪可独立调节;

5. 样品台旋转:样品台可以旋转,转速1-6 rpm可调;

6. 样品台可以实现X和Y方向的移动;

7.  真空度:5×10-6 Torr;

8. 样品更换:样品更换时间1min,无需破减薄室真空;

9. 控制部分:彩色触摸屏,操作简单,能够完全控制所有参数,支持减薄程序的设定和储存;

10. 配备液氮冷台,可持续使用6-8小时

三、功能特色

1可进行块体材料透射电镜样品的常规平面样品和截面样品制备;

2. 离子束能量0.1-8.0 keV可调,低能范围的性能减少样品表面因离子束轰击而产生的非晶区域;

3. 可用于聚焦离子束(FIB)样品的表面清扫;

4. 配备的液氮冷台消除热效应所产生的样品损伤,适合对温度敏感性样品的减薄,从而还原样品的真实结构以供透射电镜(TEM)分析研究

5. 配备可调节样品台可对减薄样品进行精确定位

6. 触摸操作简单易用,提高对减薄区域的精度控制和减薄过程的可重复性。

四、样品要求

1. 样品要求:大小Φ3mm,厚度30-40μm;

2. 样品在制备过程中不会发生组织结构变化;

3. 本设备不接受磁性样品。

五、培训及认证方式

1. 考虑到设备操作简单,有需求的同学可提前联系老师做样前培训,即可成为设备的普通用户,该培训无需提交申请书;

2. 有特殊功能需求的用户,可培训成为高阶用户,并承担设备的日常清理和维护工作,高阶用户可在非工作时间段预约测试,且享受测试费用优惠政策。

六、收费标准

试运行期间:普通用户80元/小时,高阶用户40元/小时;

正式运行:普通用户100元/小时,高阶用户50元/小时;

本设备接受送样测试:500元/样;

预约请登录http://yiqi.tju.edu.cn(天津大学大型仪器管理平台)。

七、送样要求

1、在“附件”处下载“送样单”并和样品一同放置于样品袋中,送样前请提前跟测试老师沟通测试需求(桑老师);

2、样品为厚度70-90μm的薄片,面积可至少能制备出一个Φ3mm样品。

八、送样地点及时间

北洋园校区:58教地下一层天大电镜中心  每周一至周五,08:30-16:30

联系人:   魏欣欣 电话:18842546786

                桑聿帅 电话:18222938961