通知公告

【仪器培训】天津大学大型仪器平台电镜中心 关于开展JEM-F200场发射透射电镜操作认证培训的通知

发布时间: 2024-11-19 11:19:11

电镜中心新进的JEM-F200场发射透射电镜配置场发射电子枪,分辨率可达0.1nm。双探头超级能谱探测器(探头面积200 mm2),可在任意样品倾角下实现快速精准的微区成分分析,目前已安装调试完毕仪器参数见附件1)。为提高大型仪器设备开放共享使用效率,全面满足校内广大师生的需求,电镜中心对具有日本电子相关透射电镜的实操经验者,进行互认培训,具体安排如下:

一、培训内容

场发射透射电镜(型号:JEM-F200)的操作技术。

二、培训人员

可独立上机操作日本电子透射电镜的人员。

三、培训及认证方式

集中培训和单独上机操作相结合,经考核合格后,认证为电镜中心透射电镜的自测用户,可在非工作时间段预约测试,且享受测试费用优惠政策。

四、报名方式及时间安排

1.需征得导师同意,阅读并签署《学生导师知情书》(见附件2);

2.请用微信扫描“JEM-F200电镜互认群”二维码加入群聊,群昵称修改为姓名-学院名称-导师姓名;扫码如实填写“JEM-F200 培训信息表”。

3.报名截止时间为1124日。

五、培训认证时间

根据报名情况微信群内另行通知(暂定于11月26日)。

六、联系方式

代艳竹 18092532753

           

电镜中心

2024年1118


附件1

JEM-F200场发射透射电子显微镜

 

一、基本功能

1.可进行微观结构分析,拍摄明场像、暗场像、高分辨像、扫描透射高角环形暗场像

2.可进行选区电子衍射会聚束电子衍射,分析微区晶体结构、样品厚度以及材料应变场;

3.配备能谱仪,可进行微区成分分析;

4.具有三维重构功能,可获得样品的三维形貌信息。

 

、技术指标

1.TEM线分辨率:0.10 nm@200 kV,点分辨率:0.23 nm@200 kV;

2.STEM-HAADF点分辨率:0.16 nm@200 kV;

3.能谱(EDS)能量分辨率136 eV

 

三、仪器特

1.搭载场发射电子枪,最高分辨率达0.1 nm

2.能够实现自动进出样品杆

3.配有双探头超级能谱仪(探头面积200 mm2),能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS分析

4.搭载有RIO16高速相机,成像质量更高。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附件2

学生导师知情同意书

 

为了缓解测试的需求,提高电镜共享使用效率,请参加培训认证的学生及其导师认真阅读以下内容并签字:

1.掌握好电镜的操作技术相对于其他仪器设备有一定难度,并需要细心和不断实践提高,请根据自身情况选择培训,培训期间学生不得中途退出。

2.完成培训后,电镜中心将甄选优秀学员承担每周约3小时对外值机任务;并可预约电镜的非工作时间段使用电镜,享受优惠价格。

3.在不影响自身学业的情况下,组内部分测试工作由完成培训的学生承担;该学生退出本组服务时间不得早于毕业前半年,其他时间退出将影响本课题组使用本仪器。

4.完成培训并认证为自测用户后,半年内未使用该电镜,将取消自测用户的资格。

5.在完成培训后,学生独立上机时,请严格遵守操作规程,如违反操作规定造成电镜人为损坏,将由本课题组承担相关维修费用。

 

我已阅读相关要求规定,同意参加培训。

 

学生(签字):                       电话:                 

 

导师(签字):                       日期:                 

 

 附件1  日本电子JEM-F200电镜功能参数 .docx

 附件2  学生导师知情同意书.docx