电镜中心新进的JEM-F200场发射透射电镜配置冷场发射电子枪，分辨率可达0.1nm。双探头超级能谱探测器（探头面积200 mm²），可在任意样品倾角下实现快速精准的微区成分分析，目前已安装调试完毕（仪器参数见附件1）。为提高大型仪器设备开放共享使用效率，全面满足校内广大师生的需求，电镜中心对具有日本电子相关透射电镜的实操经验者，进行互认培训，具体安排如下：

一、培训内容

场发射透射电镜（型号：JEM-F200）的操作技术。

二、培训人员

可独立上机操作日本电子透射电镜的人员。

三、培训及认证方式

集中培训和单独上机操作相结合，经考核合格后，认证为电镜中心透射电镜的自测用户，可在非工作时间段预约测试，且享受测试费用优惠政策。

四、报名方式及时间安排

1.需征得导师同意，阅读并签署《学生导师知情书》（见附件2）；

2.请用微信扫描“JEM-F200电镜互认群”二维码加入群聊，群昵称修改为姓名-学院名称-导师姓名；扫码如实填写“JEM-F200 培训信息表”。

3.报名截止时间为11月24日。

五、培训认证时间

根据报名情况微信群内另行通知（暂定于11月26日）。

六、联系方式

代艳竹 18092532753

电镜中心

2024年11月18日

附件1

JEM-F200场发射透射电子显微镜

一、基本功能

1.可进行微观结构分析，拍摄明场像、暗场像、高分辨像、扫描透射高角环形暗场像；

2.可进行选区电子衍射和会聚束电子衍射，分析微区晶体结构、样品厚度以及材料应变场；

3.配备能谱仪，可进行微区成分分析；

4.具有三维重构功能，可获得样品的三维形貌信息。

二、技术指标

1.TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV；

2.STEM-HAADF点分辨率：0.16 nm@200 kV；

3.能谱仪（EDS）能量分辨率：136 eV。

三、仪器特色

1.搭载冷场发射电子枪，最高分辨率达0.1 nm；

2.能够实现自动进出样品杆；

3.配有双探头超级能谱仪（探头面积200 mm²），能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS分析；

4.搭载有RIO16高速相机，成像质量更高。

附件2

学生导师知情同意书

为了缓解测试的需求，提高电镜共享使用效率，请参加培训认证的学生及其导师认真阅读以下内容并签字：

1.掌握好电镜的操作技术相对于其他仪器设备有一定难度，并需要细心和不断实践提高，请根据自身情况选择培训，培训期间学生不得中途退出。

2.完成培训后，电镜中心将甄选优秀学员承担每周约3小时对外值机任务；并可预约电镜的非工作时间段使用电镜，享受优惠价格。

3.在不影响自身学业的情况下，组内部分测试工作由完成培训的学生承担；该学生退出本组服务时间不得早于毕业前半年，其他时间退出将影响本课题组使用本仪器。

4.完成培训并认证为自测用户后，半年内未使用该电镜，将取消自测用户的资格。

5.在完成培训后，学生独立上机时，请严格遵守操作规程，如违反操作规定造成电镜人为损坏，将由本课题组承担相关维修费用。

我已阅读相关要求规定，同意参加培训。

学生（签字）：                       电话：                 

导师（签字）：                       日期：                 

 附件1  日本电子JEM-F200电镜功能参数 .docx

 附件2  学生导师知情同意书.docx