天津大学大型仪器平台电镜中心场发射透射电镜JEM-F200已安装调试完毕，现开放试运行，欢迎预约测试！

一、仪器介绍

场发射透射电镜（JEM-F200）配置高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪，分辨率可达0.1 nm。可进行材料微观结构分析：拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射、二次电子像及扫描透射像；可进行材料微观结构成分分析：成分的定量、半定量分析，元素成分的点、线、面分析。配备多种原位样品杆，可实现原位电镜研究。

二、基本参数

1. TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV；

2. STEM-HAADF点分辨率：0.16 nm@200 kV；

3.放大倍数：TEM模式下，20k-2000k；

STEM模式下，10k-150M;

4.电子枪：冷场发射电子源；

5.能谱仪（EDS）能量分辨率：136 eV。

三、功能特色

1. 能够实现自动进出样品杆，更易于初学者操作；

2. 配有双探头超级能谱仪（探头面积200 mm²），能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS成分分析；

3. 配备3D重构成像系统，可获得样品的三维形貌信息；

4. 配备多种原位样品杆，可实现气相、液相、高温和电压等外场作用下的原位电镜研究。

四、样品要求

1.本透射电镜不接受磁性样品；

2.用于透射电镜观察的样品，通常厚度要求小于200nm；

3.对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上且干燥，无挥发性、易腐蚀性溶剂。

五、收费标准

试运行期间：普通用户200元/时，自测用户150元/小时。

正式运行：普通用户400元/时，自测用户300元/小时。

预约请登录http://yiqi.tju.edu.cn（天津大学大型仪器管理平台）。

六、联系方式

联系人：代艳竹  联系电话：18622020019