天津大学物理系高分辨X射线衍射仪(Bruker D8 Discover)已安装调试完毕，现开放试运行，欢迎预约测试！

一、仪器介绍

Bruker D8 Discover是专为高分辨材料分析设计的多功能X射线衍射仪，配备五轴样品台、三轴晶光路、半导体阵列探测器及多层膜平行光系统，支持薄膜、晶体及纳米材料的表征。

二、主要技术参数

1. X射线光源：陶瓷X光管（Cu靶，λ=1.54 Å），最大功率2.2 kW。

2. 光路系统：多层膜反射镜（发散度<0.03°），高分辨单色器（Ge单晶，发散度≤15角秒），四挡自动吸收片（×1~×1000动态切换）。

3. 测角仪与样品台: 测角仪配备330 mm超大回转半径结构，具备±0.01°的角度测量精度和0.0001°超精细步进分辨率，可满足纳米级角度测量需求；与之协同的五轴样品台系统集成Chi轴（-5°~ +95°倾角调节）、Phi轴（360°连续旋转）双自由度旋转机构，配合X/Y/Z三轴精密位移平台（定位精度达1μm），实现高精度测量。

三、功能特色

1. 物相分析及高分辨测量（HRXRD）

2. 薄膜厚度与粗糙度测定

3. 残余应力测定

4. 倒易空间图（RSM）分析

5. 极图测量

6. 微区分析：可实现2mm，1mm，1mm，0.5mm， 0.3mm微区分析

四、送样要求

1. 薄膜样品：表面平整，厚度小于4mm。

2. 特殊分析送样前请提前和负责老师沟通。

五、试运行收费标准

1.试运行期间免费测试，试运行结束后恢复正常收费标准。

仪器型号：Bruker D8 Discover 

实验室地点：49-118

联系人：王建春

电话：15620600381

邮箱：jianchun@tju.edu.cn

预约使用培训暂定5月23日和30日。欢迎广大师生请大家及时关注仪器公告并申请参加培训，体验高效科研新利器！