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仪器详情
光谱型椭偏仪
仪器编号
2015009764
规格
生产厂家
J.A.Wollam
型号
RC2
制造国家
美国
分类号
03040606
放置地点
卫津路校区5-113113
出厂日期
2015-10-15
购置日期
2015-12-11
入网日期
2017-06-05
主要规格及技术指标
光谱范围245-1000nm，光谱测量间隔≤1nm；45-90度自动变角，角度重复性优于0.01度；100mm X/Y自动平移台，Z轴10mm，样品台手动俯仰调节；300μm微光斑，参数测量范围
主要功能及特色
可以测量纳米级薄膜的厚度以及光学常数，可以变温测量。
主要附件及配置
无
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