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磁光克尔综合显微系统
仪器编号
2026001365
规格
生产厂家
托托科技（苏州）有限公司
型号
TTT-kerr Microscope G3
制造国家
中国
分类号
放置地点
第49教学楼
出厂日期
2025-12-03
购置日期
2026-03-24
入网日期
2026-04-08
主要规格及技术指标
（1）实时输出磁畴图像，相机面内分空间辨率不低于500nm，垂直磁各向异性薄膜Z向方向分辨率≤1 nm，面内磁各向异性薄膜Z向分辨率 ≤5 nm；（2）支持面内/面外各向异性磁性样品磁光克尔测试，
主要功能及特色
无
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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