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电子探针X射线显微分析仪
电子探针X射线显微分析仪
仪器编号
2025010705
规格
生产厂家
JEOL
型号
JXA-iHP200F
制造国家
日本
分类号
放置地点
第31教学楼
出厂日期
2024-02-28
购置日期
2025-12-05
入网日期
2026-03-10

主要规格及技术指标

二次电子分辨率≦2.5 nm; 束流稳定度≦±0.3 %/h;最大束流≧ 3 μA;样品台 X/Y 轴重复精度≦±1 μm (p-p);分光晶体翻转重复精度 S ≦ 2%

主要功能及特色

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期