仪器列表
半导体特性测试仪
半导体特性测试仪
仪器编号
20116123
规格
4200
生产厂家
吉时利公司
型号
4200SCS/F
制造国家
美国
分类号
放置地点
卫津路校区第26教学楼微纳材料与传感技术实验室26-D-128(停用)26D-128 D-128
出厂日期
2012-06-26
购置日期
2012-06-26
入网日期
2012-06-25

主要规格及技术指标

电流分辨率1fA,电压分辨率1uA

主要功能及特色

1、直流常规I-V特性测试;
2、高功率器件的脉冲I-V测试
3、C-V测试

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期