主要规格及技术指标

1. 测定波长范围：180~3300 nm；
2. 杂散光：0.000075%T；
3. 仪器线性范围：7.5 A；
4. 波长准确性：UV/Vis ±0.08 nm，NIR ±0.35 nm；
5. 波长重复性：UV/Vis< 0.021 nm 线光源；NIR< 0.09 nm 线光源；
6. 光度准确性：±0.0004 A@0.5 A，双光阑法；
7. 光度重复性：<0.00009 A@0.5 A；
8. 基线漂移：<0.00025 A/h；
9. 基线平直：<0.00081 A@190~3100 nm；
10. 噪声水平：<0.00005 A；
11. 积分球：光学聚四氟涂层，直径150 mm；
12. 原位透射附件温度范围：-190℃至250℃；
13. 原位漫反射附件温度范围：室温至900℃；
14. 变角附件：角度范围8至68度。

主要功能及特色

原位紫外可见近红外光学性能表征系统可在180-3300nm波长范围进行光谱扫描、多波长测量、动力学测定、波长编程等，可测量样品对紫外可见近红外光的吸收、反射和透过性能，分析材料的带隙、色度、雾度等特性。设备搭载了URA附件、偏振附件、可变角度样品台，可对材料表面全反射性质、偏振特性和多角度透过性能进行表征。同时还配备了一系列的原位反应附件，可实现高低温原位反应测量、光催化反应和多种气氛条件下的透射和漫反射光学特性表征。

主要附件及配置

1. 紫外可见近红外分光光度计可测定化学、材料、镀膜等研究领域的样品在紫外可见近红外区域的透过率、反射率、吸收值等光学性质。配置150mm积分球可表征纳米材料的带隙大小、色度、雾度、薄膜厚度等性能。
2. 搭载的通用型反射/透射附件URA可进行样品的绝对反射/相对反射的测量，8至65度0.5度连续可调入射角，最小样品可测至2mm，可实现同一样品点不同角度的绝对反射测量。
3. 配置偏振附件，适应220-2600nm波段的偏振性能测试。
4. 配置多角度样品台，实现8至68度的透过率性能测试。
5. 搭载了一系列的原位反应附件，用于-190℃至250℃原位透射性能和室温至900℃原位漫反射性能测试，以及光催化反应和多种气氛条件下的透射和漫反射光学特性表征。