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半导体光电性能测试系统
半导体光电性能测试系统
仪器编号
2025001445
规格
生产厂家
北京卓立汉光
型号
SPM600-ZL
制造国家
中国
分类号
放置地点
第49教学楼近代物理实验1
出厂日期
2024-12-11
购置日期
2025-03-28
入网日期
2025-04-02

主要规格及技术指标

1.光谱范围:420-2300nm*2光源:总功率7W,功率稳定性<0.5%(RMS),可变重复率100KHz-1MHz,纳秒级脉宽3.单色仪:300mm焦距三光栅DSP扫描仪,波长准确度:±

主要功能及特色

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期