天津大学大型仪器管理平台

1. TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV；
2. STEM-HAADF点分辨率：0.16 nm@200 kV；
3.放大倍数：TEM模式下，20k-2000k；
STEM模式下，10k-150M;
4.电子枪：冷场发射电子源；
5.能谱仪（EDS）能量分辨率：136 eV。

主要功能及特色

JEM-F200采用冷场发射枪，配有HAADF附件，可进行材料微观结构分析：拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射、二次电子像及扫描透射像；可进行材料微观结构成分分析：成分的定量、半定量分析，元素成分的点、线、面分析。

主要附件及配置

配有双探头超级能谱仪（探头面积200 mm2），能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS成分分析；配备3D重构成像系统，可获得样品的三维形貌信息；配备多种原位样品杆，可实现气相、液相、高温和电压等外场作用下的原位电镜研究。

主要规格及技术指标

主要功能及特色

主要附件及配置