加速电压:300 KV,80KV,40KV
点分辨率:≤0.17 nm (@300 kV),0.33(±0.02) nm(@80 kV)
晶格分辨率:FFT Spot50 pm (@300 kV)
STEM明场/暗场分辨率:≤53 pm (@300 kV),≤96 pm(@80 kV)
信息分辨率:≤0.09nm (@300 kV),≤0.12 nm(@80 kV)
能谱分辨率:≤133 eV (MnKα线)
数字化成像系统:4K* 4K像素
可进行原子级高分辨观察,同时配备了能谱仪和三维重构样品杆,可进行微区原子级高分辨成分分析和TEM、STEM和EDS三维重构以及EELS分析。
能谱仪,EELS,三维重构
公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
---|