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仪器详情
JEM-F200
仪器编号
22DK000394
规格
生产厂家
JEOL
型号
JEM-F200
制造国家
日本
分类号
放置地点
E142
出厂日期
2024-09-29
购置日期
2024-09-29
入网日期
2024-09-29
主要规格及技术指标
加速电压：200 KV；
点分辨率：≤ 0.19 nm；
线分辨率：≤ 0.10 nm；
STEM明场/暗场分辨率：≤0.16 nm@200KV；≤0.31 nm@80KV
能谱仪能量分辨率：≤ 130 eV；
倾斜角：≤25°；
数字化成像系统：4K*4K像素。
主要功能及特色
场发射透射电子显微镜可对材料特别是纳米材料内部微结构和粒径进行观察，同时可提供选区电子衍射和晶体结构分析，配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及元素定性和半定量微区分析。
主要附件及配置
能谱仪
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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