加速电压:300 KV,200KV,80KV
晶格分辨率:FFT Spot 60 pm (@300 kV)
STEM明场/暗场分辨率:≤192 pm (@300 kV),≤314 pm(@80 kV)
信息分辨率:≤0.08 nm (@300 kV),≤0.13 nm (@80 kV)
能谱分辨率:≤133 eV
数字化成像系统:4K*4K像素
可进行原子级高分辨观察,同时配备了能谱仪和三维重构样品杆,可进行微区原子级高分辨成分分析和TEM、STEM和EDS三维重构。
能谱仪,三维重构系统
公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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