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仪器详情
场发射透射电子显微镜 Talos
仪器编号
22GS000213
规格
生产厂家
型号
Talos F200X
制造国家
分类号
放置地点
58楼ACE区地下一层B150
出厂日期
2024-03-27
购置日期
2024-03-27
入网日期
2024-03-27
主要规格及技术指标
TEM信息分辨率:0.12nm@200kV;
STEM点分辨率：0.16nm@200kV;
主要功能及特色
用于金属、半导体、多层膜、二维材料等在纳米或原子尺度下的晶体结构表征和化学成分分析等：可实现TEM成像、HAADF/ADF/BF/iDPC-STEM成像、衍射等分析；可实现纳米尺度分辨的EDS能谱分析；可实现TEM模式、STEM模式和EDS模式的三维重构。
主要附件及配置
配有肖特基热场发射电子枪；分割式STEM探头和DPC/iDPC技术；无窗口四探头Super-X超级能谱探测器；Ceta 16M相机；3D重构成像系统，自动进行原始数据采集、对中、重构；加速电压：80,200kV(可选）。
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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