1. 设备测量精度:3D≤50με; 2D≤10με;测量范围:0.005%~≥2000%。设备位移测量精度:≤0.01像素。2. 设备应变测量尺度范围:1×1mm至10×10m。图像处理计算速度:
应变测量
无