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仪器详情
扫描探针显微镜（纳米力学测试系统）
仪器编号
2014003597
规格
生产厂家
布鲁克科技有限公司
型号
NanoScope V
制造国家
德国
分类号
放置地点
卫津路校区20楼736
出厂日期
1970-01-01
购置日期
1970-01-01
入网日期
2021-06-05
主要规格及技术指标
PeakForce KPFM利用传感器检测变化，可获得作用力分布信息
主要功能及特色
扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等）的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及高分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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