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仪器详情
光谱型椭偏仪
仪器编号
2014004358
规格
生产厂家
美国J.A. Woollam公司
型号
光谱型椭偏仪
制造国家
美国
分类号
放置地点
卫津路校区54楼E405
出厂日期
1970-01-01
购置日期
1970-01-01
入网日期
2021-06-05
主要规格及技术指标
光谱范围：193-1690nm，测量间隔1.6nm (<1000nm), 3.6nm (>1000nm)。基座：45-90°自动变角，水平样品台；自动Z轴调整，最大行程15mm左右。补偿技术：采用旋
主要功能及特色
薄膜厚度测量
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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