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仪器详情
场发射透射电子显微镜JEM-F200
仪器编号
2023024322
规格
生产厂家
日本电子JEOL
型号
JEM-F200
制造国家
日本
分类号
放置地点
北洋园校区54楼101
出厂日期
2019-05-10
购置日期
2019-05-10
入网日期
2019-05-10
主要规格及技术指标
无
主要功能及特色
F200和2100F是同功能的机型，可以进行形貌、SAED、TEM下的明场/暗场像、NBD、CBD、STEM明场/暗场像、BEI、SEI、EDS、Mapping等的检测
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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