仪器列表
场发射透射电子显微镜JEM-F200
场发射透射电子显微镜JEM-F200
仪器编号
2023024322
规格
生产厂家
日本电子JEOL
型号
JEM-F200
制造国家
日本
分类号
放置地点
北洋园校区54楼101
出厂日期
2019-05-10
购置日期
2019-05-10
入网日期
2019-05-10

主要规格及技术指标

主要功能及特色

F200是2100F的升级机型,可以进行形貌、SAED、TEM下的明场/暗场像、NBD、CBD、STEM明场/暗场像、BEI、SEI、EDS、Mapping等的检测

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期