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仪器详情
场发射透射电子显微镜JEM-2100F
仪器编号
20103150
规格
JEM-2100F
生产厂家
日本电子
型号
JEM-2100F
制造国家
日本
分类号
010101
放置地点
北洋园校区54楼102
出厂日期
2009-09-07
购置日期
2010-09-01
入网日期
2011-06-09
主要规格及技术指标
分辨率0.19nm，线分辨率0.1nm
主要功能及特色
场发射透射电子显微镜可对材料特别是纳米材料内部微结构和粒径进行观察，同时可提供选区电子衍射和晶体结构分析，配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及元素定性和半定量微区分析。
主要附件及配置
水冷机
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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