天津大学SEM/EDS分析质量保障技术

暨蔡司Raman-SEM系统应用和FIB相关应用研讨会

会议通知(第一轮)

​ 为提升我校相关专业师生的仪器操作技能,促进大型仪器的共享开放,拟于2019年12月20日(周五)在天津大学北洋园校区举办天津大学SEM/EDS分析质量保障技术暨蔡司Raman-SEM系统应用和FIB相关应用研讨会,本次会议由天津大学分析测试中心主办,天津大学资产与实验室管理处、天津大学材料学院和天津大学化工学院协办。

研讨会主要围绕电镜及能谱的样品制备、仪器状态识别、工作参数选定、结果数据评价和日常维护管理等被普遍关注的问题展开,面向我校负责电镜日常操作的老师以及已通过仪器培训具有独立操作权限的学生。具体事宜通知如下:

会议时间:2019年12月20日(周五)9:00

会议地点:天津大学北洋园校区1895大楼(会议室待定)

主办单位:天津大学分析测试中心

赞助单位:德国卡尔蔡司公司

协办单位:天津大学资产处,天津大学材料学院,天津大学化工学院

联系人:王意18522955027;李轩17701267938

备注:本次会议提供茶歇和午餐。

会议日程

时 间 报告题目 报告人单位 报告人 主持
9:00-9:10 开幕式 姚琲
祝词 资产处分析测试中心 资产处领导分析测试中心领导
祝词 蔡司公司
9:10-10:00 蔡司Raman-SEM和共聚焦-SEM系统介绍 蔡司公司 任祺君 崔兰
10:00-10:30 SEM/EDS样品分类制备 材料学院 韩雅静
10:30-10:45 茶歇讨论 /
10:45-11:15 SEM/EDS状态识别、工作参数选定与数据评价 分析测试中心 李轩、姚琲 姚琲
11:15-11:45 FIB介绍及其应用 蔡司公司 沙学超
11:45-12:15 SEM/EDS开放运行中的维护与管理 化工学院 靳凤民
12:15-13:00 午餐
13:00- 讨论